芯片微缩的新方法
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方形侧墙 -
横向蚀刻 -
选择性工艺
方形侧墙


横向蚀刻

选择性工艺
-
晶圆上已经有金属图案。 -
在金属图案上选择性沉积以形成较高的一层材料。 -
间隙填充至高起的材料的顶部以上,然后通过CMP进行平坦化。 -
沉积TiN硬掩模。 -
金属光刻定义了下一个金属层的图案。 -
将金属图案蚀刻到TiN和间隙填充材料中,无论当前的金属图案与先前的金属图案重叠在哪里,都会暴露出底部选择性沉积材料。 -
通孔光刻,由于通孔将与金属掩模自对准,因此该掩模的尺寸可能会比较大。 -
蚀刻通孔,通孔图案在一个方向上受到TiN金属硬掩模的约束,并且仅蚀刻暴露的选择性沉积材料,从而形成与底部金属层自对准的通孔。

结论
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方形侧墙减少了SAQP工艺中的工艺步骤,从而减少了成本和工艺时间。 -
定向蚀刻可改善T2T间距,从而实现更紧凑的布局,从而提高成本优势。 -
选择性工艺可减少EPE并实现最大通孔尺寸,从而提高性能。
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