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失效分析，如何助力芯片研发和良率提升？

2026-03-12 11:23:20 来源: 互联网

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在半导体技术持续迈向更高良率与更强可靠性的进程中，精准洞察与高效验证能力正成为关键竞争力。赛默飞诚挚邀请您参加2026年半导体解决方案研讨会（上海站）。

本次会议将围绕：

物性与电性失效分析技术

ESD测试与失效路径验证

多维度协同分析方法

AI时代下的半导体分析解决方案

结合真实应用案例与实践经验，系统探讨高良率和可靠性阶段的问题定位路径与可落地的技术方案。

我们期待与您现场交流，共同探索更高效、更精准的分析思路。

会议信息

时间：2026年3月24日（周二）13:00-18:30

地点：赛默飞客户体验中心（上海市浦东新区张江高科技园区金科路2517号中国芯科技园A栋）

形式：线上线下同步进行

责任编辑：SemiInsights